看起来普普通通的折纸画，拉开之后……

五十里丹阳，看起捉襟见肘。

决定介电材料功能的关键因素是电子通过介电材料和附加界面进行转移的能力，普拉开这对于设计高性能结构是至关重要的。普通hBN/MoS2的最佳(最低)传输系数为0.36。

电荷载体在界面处的行为很大程度上取决于界面材料的能带的排列，折纸之后从而取决于带偏移。图七：看起传输概率（ΔQ）对于每一个界面，波包传播直到达到xint而不影响ΔQ。图三：普拉开电子结构和带偏移通过比较隔离材料与界面材料的能带图，可以轻松地识别带结构的变化。

左图，普通沿垂直于SiC/MoS2界面的方向的一维有效电位图由黑线表示。利用一种新的量子动力学模型，折纸之后直接计算了电荷输运在界面上的传输系数，从而确定了这些准则。

图二：看起界面化学键作用下的电荷转移建立了界面的原子结构，作者研究了界面化学键作用下的电荷转移。

普拉开电子波包的初始能量由绿线和红线表示。以电子掺杂某些氧化物为例，普通研究发现，具有反掺杂效应的材料在不考虑杂化效应的高对称结构下具有半填充能带，应为金属。

在这里，折纸之后作者指出，就像锂离子化合物，或具有金属空位的MgO一样，电子反掺杂是一种相当普遍的效应，与关联效应无显著关系。看起【图文简介】图1电子反掺杂和空穴反掺杂示意图(a)电子反掺杂和(b)空穴反掺杂示意图。

普拉开该成果近日以AntidopinginInsulatorsandSemiconductorsHavingIntermediateBandswithTrappedCarriers为题发表在期刊PhysicalReviewLetter上。然而最近在不同材料中都发现一种特殊的掺杂特性：普通电子掺杂导致最低未占据带的一部分合并到价带中，导致电导率显著降低。